Sonntag, 12. März 2023
Embedded world 2023: Rohde & Schwarz präsentiert modernste Testlösungen für Embedded-Systeme
bodohann, 13:35h
Embedded-Systeme sind ein zentrales Element heutiger elektronischer Geräte, sei es in Unterhaltungselektronik, Telekommunikation, Industrie, Medizin, Automotive- oder Luftfahrt-Anwendungen.
Ein fehlerfreier Betrieb ist hier von entscheidender Bedeutung, und Ingenieure stehen bei der Entwicklung immer kompakterer eingebetteter Systeme, die den heutigen Anforderungen an Effizienz, Sicherheit, Zuverlässigkeit und Interoperabilität gerecht werden, vor komplexen Herausforderungen. Rohde & Schwarz adressiert diese Herausforderungen mit einem umfassenden Sortiment an Messtechniklösungen, die auf der embedded world Exhibition & Conference 2023 in Nürnberg ausgestellt werden.
Rohde & Schwarz präsentiert auf der embedded world Exhibition & Conference seine neuesten Messtechniklösungen für die Embedded-Branche. An Stand 4-218 in Halle 4 des Messezentrums Nürnberg können sich die Besucher direkt bei den Experten über verschiedene Testaspekte für Embedded Designs informieren: von Tests digitaler Designs und Schnittstellen über Leistungselektronik und elektromagnetische Verträglichkeit bis hin zu drahtloser Konnektivität und Fahrzeugnetzwerken.
Neue Oszilloskop-Generation bietet schnellere Einblicke
Im Mittelpunkt des Messeauftritts von Rohde & Schwarz steht die kürzlich eingeführte R&S MXO 4 Serie mit den ersten Oszilloskopen einer neuen Generation. Die 4-Kanal-Oszilloskope verfügen nicht nur über einen brillanten kapazitiven 13,3"-Full-HD-Touchscreen, sondern warten auch mit einer Reihe von Branchenneuheiten auf: Das R&S MXO 4 bietet die höchste Echtzeit-Aktualisierungsrate von 4,5 Mio. Messkurven/s, sodass Entwicklungsingenieure mehr Signaldetails sehen und mehr seltene Ereignisse erfassen können als mit jedem anderen Oszilloskop.
Der 12-bit-A/D-Wandler erreicht bei allen Abtastraten die 16-fache Auflösung im Vergleich zu einem herkömmlichen 8-bit-Oszilloskop. Mit 400 MPunkten Standard-Erfassungsspeicher auf allen vier Kanälen gleichzeitig bieten sie außerdem eine um 100-mal größere Standardspeichertiefe. Auf der embedded world können die Besucher das R&S MXO 4 in einem Messaufbau für Decodierung serieller Protokolle erleben und die neue CAN XL-Trigger- und Decodier-Funktionalität kennenlernen.
Signalintegritätstests in digitalen Highspeed-Designs
Digitale Highspeed-Schnittstellen sind das Herzstück moderner Elektronikdesigns. Die immer höheren Datenraten und zunehmende Integrationsdichte stellen auf IC-, Board- und Systemebene neue Designanforderungen. Messebesucher können sich über leistungsstarke Werkzeuge zur Systemverifizierung und Fehlersuche sowie Konformitätstests für die Signalintegrität an Schnittstellen, Leiterplatten und Verbindungen informieren. Zu den Demo-Aufbauten am Rohde & Schwarz-Stand gehören Signalintegritäts-Schnittstellentests mit erweiterten Augendiagrammen sowie Compliance-Tests von Highspeed-Digitalschnittstellen an DDR4-Designs mit dem R&S RTP164B Oszilloskop. Weiterhin werden mit dem R&S ZNB43 Vektornetzwerkanalysator sowie Tastköpfen und einem Demo-Board Messungen an schnellen differenziellen Signalstrukturen mit präzisem Tastkopf-Deembedding gezeigt.
Leistungselektroniktests
Die Performance von Leistungswandlern, stabile und saubere Signale auf der Spannungsversorgung und qualifizierte Embedded-Design-Komponenten sind für die Zuverlässigkeit elektronischer Geräte unerlässlich. Wichtig ist beispielsweise die Messung des Stromverbrauchs batteriebetriebener Geräte in allen Phasen und beim Übergang vom Ruhezustand in den aktiven Modus. Rohde & Schwarz demonstriert dazu die Batteriemodellierung und -simulation mit den R&S NGU Source Measure Units aus dem R&S Essentials Portfolio. Für die Komponentencharakterisierung werden sowohl die R&S LCX200 LCR-Meter von Rohde & Schwarz als auch die MFIA Impedanz-Analysatoren der Zurich Instruments AG – einer Tochtergesellschaft seit 2021 – ausgestellt.
Aufspüren elektromagnetischer Störungen
Wie alle elektronischen Steuerungen sind auch eingebettete Systeme anfällig für geleitete und gestrahlte elektromagnetische Emissionen. Eine beträchtliche Anzahl fertiger elektronische Produkte fällt im ersten Versuch bei EMV-Konformitätstests durch. Jeder Tag, der für die Identifizierung und Behebung von EMV-Problemen aufgewendet wird, verlängert die Zeit bis zur Markteinführung. Als führender Anbieter von EMV-Messtechnik zeigt Rohde & Schwarz Lösungen, die EMI-Tests in den Produktentwicklungsprozess integrieren. Messebesucher erleben, wie das R&S RTO6 Oszilloskop als leistungsfähiges Werkzeug für die EMI-Fehlersuche oder der R&S FPL1000 Signal- und Spektrumanalysator für EMV-Precompliance-Tests eingesetzt werden können.
Ein fehlerfreier Betrieb ist hier von entscheidender Bedeutung, und Ingenieure stehen bei der Entwicklung immer kompakterer eingebetteter Systeme, die den heutigen Anforderungen an Effizienz, Sicherheit, Zuverlässigkeit und Interoperabilität gerecht werden, vor komplexen Herausforderungen. Rohde & Schwarz adressiert diese Herausforderungen mit einem umfassenden Sortiment an Messtechniklösungen, die auf der embedded world Exhibition & Conference 2023 in Nürnberg ausgestellt werden.
Rohde & Schwarz präsentiert auf der embedded world Exhibition & Conference seine neuesten Messtechniklösungen für die Embedded-Branche. An Stand 4-218 in Halle 4 des Messezentrums Nürnberg können sich die Besucher direkt bei den Experten über verschiedene Testaspekte für Embedded Designs informieren: von Tests digitaler Designs und Schnittstellen über Leistungselektronik und elektromagnetische Verträglichkeit bis hin zu drahtloser Konnektivität und Fahrzeugnetzwerken.
Neue Oszilloskop-Generation bietet schnellere Einblicke
Im Mittelpunkt des Messeauftritts von Rohde & Schwarz steht die kürzlich eingeführte R&S MXO 4 Serie mit den ersten Oszilloskopen einer neuen Generation. Die 4-Kanal-Oszilloskope verfügen nicht nur über einen brillanten kapazitiven 13,3"-Full-HD-Touchscreen, sondern warten auch mit einer Reihe von Branchenneuheiten auf: Das R&S MXO 4 bietet die höchste Echtzeit-Aktualisierungsrate von 4,5 Mio. Messkurven/s, sodass Entwicklungsingenieure mehr Signaldetails sehen und mehr seltene Ereignisse erfassen können als mit jedem anderen Oszilloskop.
Der 12-bit-A/D-Wandler erreicht bei allen Abtastraten die 16-fache Auflösung im Vergleich zu einem herkömmlichen 8-bit-Oszilloskop. Mit 400 MPunkten Standard-Erfassungsspeicher auf allen vier Kanälen gleichzeitig bieten sie außerdem eine um 100-mal größere Standardspeichertiefe. Auf der embedded world können die Besucher das R&S MXO 4 in einem Messaufbau für Decodierung serieller Protokolle erleben und die neue CAN XL-Trigger- und Decodier-Funktionalität kennenlernen.
Signalintegritätstests in digitalen Highspeed-Designs
Digitale Highspeed-Schnittstellen sind das Herzstück moderner Elektronikdesigns. Die immer höheren Datenraten und zunehmende Integrationsdichte stellen auf IC-, Board- und Systemebene neue Designanforderungen. Messebesucher können sich über leistungsstarke Werkzeuge zur Systemverifizierung und Fehlersuche sowie Konformitätstests für die Signalintegrität an Schnittstellen, Leiterplatten und Verbindungen informieren. Zu den Demo-Aufbauten am Rohde & Schwarz-Stand gehören Signalintegritäts-Schnittstellentests mit erweiterten Augendiagrammen sowie Compliance-Tests von Highspeed-Digitalschnittstellen an DDR4-Designs mit dem R&S RTP164B Oszilloskop. Weiterhin werden mit dem R&S ZNB43 Vektornetzwerkanalysator sowie Tastköpfen und einem Demo-Board Messungen an schnellen differenziellen Signalstrukturen mit präzisem Tastkopf-Deembedding gezeigt.
Leistungselektroniktests
Die Performance von Leistungswandlern, stabile und saubere Signale auf der Spannungsversorgung und qualifizierte Embedded-Design-Komponenten sind für die Zuverlässigkeit elektronischer Geräte unerlässlich. Wichtig ist beispielsweise die Messung des Stromverbrauchs batteriebetriebener Geräte in allen Phasen und beim Übergang vom Ruhezustand in den aktiven Modus. Rohde & Schwarz demonstriert dazu die Batteriemodellierung und -simulation mit den R&S NGU Source Measure Units aus dem R&S Essentials Portfolio. Für die Komponentencharakterisierung werden sowohl die R&S LCX200 LCR-Meter von Rohde & Schwarz als auch die MFIA Impedanz-Analysatoren der Zurich Instruments AG – einer Tochtergesellschaft seit 2021 – ausgestellt.
Aufspüren elektromagnetischer Störungen
Wie alle elektronischen Steuerungen sind auch eingebettete Systeme anfällig für geleitete und gestrahlte elektromagnetische Emissionen. Eine beträchtliche Anzahl fertiger elektronische Produkte fällt im ersten Versuch bei EMV-Konformitätstests durch. Jeder Tag, der für die Identifizierung und Behebung von EMV-Problemen aufgewendet wird, verlängert die Zeit bis zur Markteinführung. Als führender Anbieter von EMV-Messtechnik zeigt Rohde & Schwarz Lösungen, die EMI-Tests in den Produktentwicklungsprozess integrieren. Messebesucher erleben, wie das R&S RTO6 Oszilloskop als leistungsfähiges Werkzeug für die EMI-Fehlersuche oder der R&S FPL1000 Signal- und Spektrumanalysator für EMV-Precompliance-Tests eingesetzt werden können.
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